| 标准名称： | 微束分析 扫描电镜 图像放大倍率校准导则 |
| 英文名称： | Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification |
| 中标分类： | 仪器、仪表 >> 光学仪器 >> 放大镜与显微镜 |
| ICS分类： | 成像技术 >> 光学设备 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2011-12-30 |
| 实施日期： | 2012-08-01 |
| 首发日期： | 2011-12-30 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
| 提出单位： | 全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
| 归口单位： | 全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
| 起草单位： | 中国地质科学院矿产资源研究所、中国科学院上海硅酸盐研究所、上海第二军医大学 |
| 起草人： | 陈振宇、周剑雄、李香庭、杨勇骥 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2012-08-01 |
| 页数： | 20页 |
本标准规定了使用适当的参考物质对扫描电镜(SEM)图像的放大倍率进行校准的方法。
本标准限于对由参考物质上线距大小的范围所决定的放大倍率进行校准。
本标准不适用于专用测长型扫描电镜。
没有内容
前言 Ⅰ 引言 Ⅱ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 图像放大倍率 3 5 参考物质 3 6 校准过程 4 7 图像放大倍率和标尺的准确度 7 8 校准报告 7 附录A (资料性附录) 用于放大倍率校准的参考物质 9 附录B(资料性附录) 影响扫描电镜放大倍率的参数 11 附录C (资料性附录) 放大倍率测量中的不确定度 12 附录D (资料性附录) 检验报告示例 13
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GB/T6379.1—2004 测量方法与结果的准确度(正确度与精密度) 第1 部分:总则与定义(ISO5725-1:1994,IDT)
ISO Guide34:1996 Qualitysystemguidelinefortheproductionofreferencematerials(标准样品生产的质量体系准则)
ISOGuide35:1989 Certificationofreferencematerials—Generalandstatisticalprinciples.(标准样品认证—一般原则和统计方法)
ISO/IEC17025:1999 Generalrequirementsforthecompetenceoftestingandcalibrationlaboratories(测试和校准实验室能力的通用要求)
JISQ0030—1997 标准物质常用术语和定义(ISOGuide30:1992,IDT)